Análisis de defectos en sistemas industriales, combinando la visualización y detección de patrones, con el procesamiento de lenguaje natural

Authors: Ismael Espinoza Arias, Samuel González-López, Jesús Raúl Cruz-Rentería, Jesús Miguel García-Gorrostieta, Aurelio López-López

Research in Computing Science, Vol. 154(9), pp. 77-87, 2025.

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